Dr. Ignacio Guadalupe Becerril Juárez
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Principio básico de la técnica
Su funcionamiento se basa en el efecto fotoeléctrico. Un haz de fotones de rayos-X con energía
conocida incide sobre el material excitando los electrones de los niveles más profundos.
La energía incidente excede a la energía de enlace y los electrones salen liberados
con una energía cinética que es detectada y convertida en una señal digital (espectro).
Así, a través de la relación: KE = hn - EB, se obtiene información de la
energía de enlace de los elementos que componen la superficie. El valor de h es conocido y
en este caso es de 1486.7 eV (Al-K ). KE es la energía cinética detectada por el analizador
y BE es la energía de enlace del electrón o fotoelectrón, como se le llama debido al proceso
por el que fue liberado.
Beneficios
La técnica de XPS se utiliza para analizar compuestos inorgánicos, cerámicos semiconductores,
catalizadores, aleaciones metálicas, bio-materiales, tintas, nanomateriales, piezas oseas, minerales,
implantes médicos, recubrimientos, entre una gran variedad de materiales.
El desempeño de estos
materiales y sus características de interacción con el entorno tales como adhesión,
corrosión, biocompatibilidad, lubricación, conductividad, reflectividad, catálisis,
están determinadas por su estructura química y de aquí la importancia de contar con
una técnica de alta sensitividad como XPS.
Equipos especializados que emplean esta técnica en LINAN
PHI 5000 VersaProbe II. Patentado y de última
generación, tiene características excepcionales para
un análisis detallado y preciso. El sistema trabaja
con haz de rayos-X Al-Ka monocromático y cuyo
tamaño de spot puede ser de 9 um a 200um.
Este haz de rayos-X, a diferencia de los sistemas
convencionales, se produce por el escaneo de un haz
de alto voltaje (15kV) sobre un ánodo de aluminio,
generando a su vez un haz monocromado que escanea
la superficie de la muestra. Por la generación de
electrones secundarios, produce imágenes de
175um2 a 1300um2 con la que se pueden identificar
características específicas a ser analizadas.
Detalles más importantes
- Fuente de rayos X monocromatizada: Al-ka (1486.7eV)
- Información de los 10 primeros nanómetros sobre la superficie de los materiales
- Sensitividad de 0.1% atómico
- Detección de todos los elementos excepto H
- Análisis de materiales conductores y aislantes sin necesidad de preparación especial.
- Obtención de composición elemental
- Cuantificación de estados químicos
- Perfil de composición no destructiva con XPS de resolución angular (ARXPS)
- Perfil de composición con erosión de iones (solo en películas delgadas)
- Spot mínimo de 9mm y máximo de 200mm.
Usos y aplicaciones
Existe una creciente demanda en la utilización de XPS como una herramienta para la
solución de problemas de interacción con otras superficies o con el ambiente tales
como: adhesión, corrosión, biocompatibilidad, lubricación, conductividad,
reflectividad, catálisis, detección de contaminantes, magnetismo, por mencionar algunos.
La demanda en su aplicación final se ha incrementado en los últimos años, y se espera
que continúe con este crecimiento en diversos sectores industriales de importancia económica
Servicio
- PAGO DE SERVICIOS: Los usuarios externos a IPICYT, deberán comprobar el pago de los servicios. Este procedimiento se inicia con la cotización de los mismos.
- SOLICITUD DE ANÁLISIS: Al recibir el comprobante de su pago se envía la solicitud de análisis en el formato digital de PDF. En lo posible evite imprimir el formato. Envíelo al correo: xps.linan@ipicyt.edu.mx con copia a su asesor o responsable del servicio solicitado.
- RECIBIR NÚMERO DE SERVICIO: Su solicitud es evaluada y al aprobarse se le enviará un número único de proyecto que se utilizará para el intercambio de correos durante la duración del mismo. Si es usuario IPICYT también recibirá un vale de cargo a proyecto. Después de la recepción de este número puede enviar o dejar sus muestras en XPS-LINAN, junto con su vale sellado en presupuesto (solo para usuarios de IPICYT).
- ADQUISICIÓN DE DATOS: Después de la recepción de sus muestras, considere hasta dos semanas para la obtención de datos. Si lo desea, puede estar presente durante el análisis. Contáctenos y le notificaremos cuando sus muestras estén listas para el análisis (por favor, coloque en asunto su número de proyecto asignado)
- RECIBIR DATOS: Sus datos se enviarán a su correo electrónico en formato spe, ASCII o ISO. Revise sus datos y el material adicional que se le enviará para el manejo correcto de sus archivos.
- DISCUSIÓN ADICIONAL: Quedamos a la espera de sus comentarios y posible discusión acerca de sus resultados o cualquier dato adicional que requiera
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Dr. Ignacio Guadalupe Becerril Juárez
