Espectroscopía de fluorescencia de Rayos X(XRF)
Técnicos responsables
M. En C. Beatriz Adriana Rivera Escoto

Principio básico de la técnica


En la Fluorescencia de rayos X, los rayos X son generados por una fuente que puede ser un tubo de rayos X, un sincrotrón o un material radiactivo, para ser irradiados sobre una muestra. Los elementos que se encuentran presentes en la muestra emitirán radiación fluorescente de rayos X. Cada átomo tiene niveles específicos de energía, de forma que la radiación emitida es característica de ese átomo. Un átomo emite más de una sola energía debido a que se pueden producir vacantes en diferentes niveles y los electrones que llenan estas vacantes también provienen de diferentes niveles. La colección de líneas emitidas es característica de cada elemento y puede ser considerada la huella digital del elemento.El concepto básico para todos los espectrómetros es una fuente, una muestra y un sistema de detección. La fuente irradia la muestra, y el detector mide la radiación procedente de la muestra.



Beneficios

El método es rápido, exacto y no-destructivo. La precisión y la reproducibilidad de los análisis por Fluorescencia de rayos X son muy altas. Cuando se dispone de buen material de referencia es posible obtener resultados muy certeros, pero también en aplicaciones donde no se tienen estándares específicos.El tiempo de medición depende del número de elementos a determinar y de la exactitud requerida, y varía entre segundos y 30 minutos. El tiempo de análisis después de la medición es de solo algunos segundos.

Equipos especializados que emplean esta técnica en LINAN


Espectrómetro ZSX Primus II de la marca RIGAKU.
Con generador de rayos X de rodio con cámara
automatizada para muestrear y analizar de manera
continua
Detalles más importantes

Usos y aplicaciones

El campo de aplicaciones es muy amplio: investigación y farmacia, industrias del metal, del cemento, alimenticia, aceites, polímeros y plásticos, junto con la minería, mineralogía y la geología. En algunas ocasiones puede ser empleada para determinar el espesor y la composición de capas y recubrimientos.


Servicio

Microscopia electrónica
Difracción de Rayos-X
Depósito de películas delgadas
Espectroscopias
Propiedades Físicas
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Tel: (444) 834 20 00
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